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      光電測試系統

      光電測試系統

      Inframet是一家全球知名光電測試設備制造商,能夠提供用于測試所有類型的光電成像系統和激光系統(紅外熱成像儀,夜視設備,VIS-NIR相機(CCD / CMOS / ICCD / EBAPS)相機) ,SWIR相機,UV相機,激光測距儀,激光指示器,激光照明器,激光指示器,多探測器監控系統,融合圖像相機)和此類系統的模塊(圖像增強器,IR FPA傳感器,CCD / CMOS / EBAPS探測器, 條紋管,離散紅外探測器)。 請查看專門針對不同類型的光電成像系統和模塊的章節中的詳細信息。 我們的研發及制造能力使Inframet能夠提供針對潛在客戶的特定需求而優化的各種測試系統。

      產品詳情

      測試系統

      Inframet是全球能夠提供用于測試所有類型的光電成像系統和激光系統(紅外熱成像儀,夜視設備,VIS-NIR相機(CCD / CMOS / ICCD / EBAPS)相機) ,SWIR相機,UV相機,激光測距儀,激光指示器,激光照明器,激光指示器,多探測器監控系統,融合圖像相機)和此類系統的模塊(圖像增強器,IR FPA傳感器,CCD / CMOS / EBAPS探測器, 條紋管,離散紅外探測器)。 請查看專門針對不同類型的光電成像系統和模塊的章節中的詳細信息。 我們的研發及制造能力使Inframet能夠提供針對潛在客戶的特定需求而優化的各種測試系統。



      紅外熱成像儀VIS-NIR相機夜視設備SWIR相機
      激光系統軸對準多探測器系統融合圖像相機
      紫外相機太赫茲相機圖像增強器條紋管
      VIS-SWIR FPA探測器IR FPA傳感器離散探測器光學模塊


      根據提供的測試設備的復雜程度,Inframet建議一般可分為三組:

      • 單一光電設備的測試系統

      • 多套光電設備的測試系統

      • 光電設備的計量測試系統

      單一光電設備的測試系統(例如用于測試紅外熱成像儀的DT系統)被認為是簡單的情況。 我們絕大多數的訂單都屬于這個類型。 但是,我們所有的測試系統都可以提供一系列不同技術復雜程度的版本。 因此,在該組中可以找到用于測試短焦距紅外熱像儀的相對低成本的測試系統以及用于測試長焦空間應用紅外熱像儀的昂貴的復雜的測試系統。

      多套光電設備的測試系統通常適用于光電系統的大型生產商或者維修保養車間,滿足其對于一系列的光電系統測試要求而只選用單一的測試設備用于光電系統的測試及計量。

      光電設備的計量測試系統是Inframet可以執行的訂單。在這種情況下,Inframet提供的測試所有光電設備的測試系統需要具備校準和如何使用現有的本地計量中心進行再校準校的能力。通過這種方式,客戶所在地區實現了測試光電設備計量級別的能力,而不依賴于外部的機構。


      聯系指南

                            因產品特殊性,請您直接致電或者郵件聯系詢問您的測量需求,感謝您的關注與支持





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